冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種應(yīng)用廣泛的通用實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，主要用于電子儀器、電工、電子產(chǎn)品、材料、電子元器件等行業(yè)的性能指標(biāo)測(cè)試。其中，設(shè)有高低溫?zé)釠_擊試驗(yàn)室，主要用于材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料的試驗(yàn)。通過設(shè)備試驗(yàn)，可以有效地提高產(chǎn)品的可靠性，在高溫、低溫連續(xù)環(huán)境下，通過公差水平對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制。

　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱的運(yùn)行分為預(yù)處理、初檢、試驗(yàn)、恢復(fù)和終檢。

　　預(yù)處理：將試樣置于正常的實(shí)驗(yàn)大氣條件下，直至溫度穩(wěn)定。

　　初始試驗(yàn)：根據(jù)要求，確定試樣符合要求后，將試樣直接放入冷熱沖擊試驗(yàn)箱中。

　　試樣應(yīng)放置在標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)室中，試驗(yàn)室（室）的溫度在一定時(shí)間內(nèi)上升到規(guī)定點(diǎn)，直至試樣達(dá)到穩(wěn)定的試驗(yàn)溫度，并應(yīng)長(zhǎng)期保持該溫度為準(zhǔn)。

　　在高溫階段結(jié)束時(shí)，應(yīng)將樣品轉(zhuǎn)換成低溫試驗(yàn)箱（室），在5分鐘內(nèi)調(diào)整至-55C，并保持1小時(shí)或直到樣品達(dá)到穩(wěn)定溫度，以較長(zhǎng)者為準(zhǔn)。

　　在低溫期結(jié)束時(shí)，將試樣在5分鐘內(nèi)轉(zhuǎn)換到調(diào)整到70℃的高溫試驗(yàn)箱（室）中，并保持1小時(shí)或直到試樣達(dá)到穩(wěn)定溫度，以較長(zhǎng)者為準(zhǔn)。

　　重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，完成三個(gè)循環(huán)。根據(jù)樣本大小和空間大小，時(shí)間可能稍有錯(cuò)誤。

　　回收：在正常大氣條件下取出試樣，直至溫度穩(wěn)定，試驗(yàn)結(jié)束后回收。

　　試驗(yàn)：將標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度與其他方法進(jìn)行比較，以評(píng)估試驗(yàn)結(jié)果。